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Transmission Electron Microscopy / Ludwig Reimer / Berlin; Heidelberg : Springer (1989)   

Público Título : Transmission Electron Microscopy : Physics of Image Formation and Microanalysis Tipo de documento: Libro Autores: Ludwig Reimer, Autor Mención de edición: 2nd.ed Editorial: Berlin; Heidelberg : Springer Fecha de publicación: 1989 Colección: Springer series in optical sciences num. 36 Número de páginas: vi, 547 p. Il.: il ISBN/ISSN/DL: 978-3-540-50499-3 Idioma : Inglés Clasificación: [BFA] Epistemología Palabras clave: Microscopía electrónica  Microscopio electrónico de transmisión (TEM)  Microanálisis Nota de contenido: Introduction. Particle Optics of Electrons. Wave Optics of Electrons. Elements of a Transmission Electron Microscope. Electron-Specimen Interactions. Scattering and Phase Contrast for Amorphous Specimens. Kinematical and Dynamical Theory of Electron Diffraction. Diffraction Contrast and Crystal-Structure Imaging. Analytical Electron Microscopy. Specimen Damage by Electron Irradiation. ISBN Electrónico : 978-3-662-21579-1 Link: https://www.bfa.fcnym.unlp.edu.ar/id/46732

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